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调整功能弱磁头的电压,增强磁头的读取能力。
该工具在实用程序中的实现被推迟了很长时间,因为使用读写头的加热参数需要非常小心。不正确地选择处理受损硬盘的策略将会导致划痕——对包含用户数据的磁盘表面造成不可逆的损坏。在继续使用AFH向导之前,我们将简要描述一下这项技术。它的本质解释了,为什么不恰当的工作会对硬盘造成致命的风险。
AFH(自适应飞行高度)是调节包含写入和读取元件的磁头滑块部分的飞行高度的系统。为了澄清,我们将参考下面描述该技术的专利来源的图示。
处于未加热状态(没有TFC突起)的磁头滑块显示在右上角:
TFC加热器-用于读写区域的热飞行高度控制加热器;
读数传感器——读数头;
ECS传感器(接触检测传感器)是检测磁头和磁盘表面之间接触的传感器;
书写元件-书写头;
碳涂层-磁头滑块涂层。
我们可以看到,读写元件区域的下表面是光滑的,甚至没有突起。
下图显示的是同一个磁头,但是打开了加热功能(带有TFC突起)。这里我们看到滑块的局部加热导致其热膨胀。结果,具有读写元件的区域开始突出到滑块表面之下。根据制造商的来源,距离的最大变化在微米的数量级,这是磁头滑块和磁盘表面之间的距离(图中的间隙)的重要部分。在加热后的磁头图像下方,你可以看到磁盘(磁介质)的分层表面。对加热磁头和磁盘系统的进一步检查揭示了在处理损坏的磁盘时使这项技术变得危险的原因。图像中的“凸起”表示磁盘表面的不规则性——隆起、润滑剂剥落、磁头卡住的地方形成的机械突起、过去接触过其表面……任何机械损伤。正如我们所看到的,虽然在初始状态下,该缺陷仍有机会在没有碰撞的情况下通过磁头下方,但是在经过一些加热之后,在滑块下方突出的读写元件的扩展区域将像车床刀一样切开磁盘表面上方的不规则部分,从而造成缺口。此外,加热参数的调整在可读性差的区域上进行一段时间,从而增加了磁头刮擦磁盘表面一部分的机会。
因此,只有在原始磁头退化的情况下,才建议使用AFH技术来加热磁头,在任何情况下,如果磁头或磁盘存在任何机械损坏,都不建议使用该技术。损坏证据可能包括显微镜下可见的磁头滑块表面上的污渍、灰尘。如果AFH调谐被滥用,润滑剂颗粒、来自表面的已经能够引起擦伤的碎片更有可能导致这种损伤。
请记住,该工具与AFH使用驱动器终端命令;因此,它要求终端命令模式应可用(出厂模式未锁定,固件覆盖可读且正确,可以在终端中使用Ctrl+Z命令调用命令模式)。当模式启动时,首先请求终端波特率。
接下来,应该备份ROM内容。如果已经备份,可以跳过这一步。然而,有一个备份ROM副本是强制性的。由于AFH参数存储在固件ROM的自适应数据区中,因此对它们的任何意外损坏(没有“回滚”到备份的可能性)都将导致不可逆转的后果(ROM自适应数据块的破坏,由于固件认为参数无效而造成的设备“阻塞”,特别是在终端中的LED BD消息输出开始时发生锁定:FAdrr XXXX)。
接下来,通过终端轮询驱动器以检索当前的AFH参数,并在向导窗口中显示这些参数。
控件工具栏位于窗口的上部。让我们来描述一下。
1 – 完形填空向导。
2 – 终端波特率。
3 – 从变频器重新读取当前AFH参数。
4 – 通过参数修改调整的机头数量。
5 – 显示用户区域(UA)或服务区域(SA)参数。
6 – 以十六进制(HEX)或十进制(DEC)格式显示参数值。
7 – 使用终端命令将AFH参数从表中加载到驱动器的RAM中。按钮右侧的三角形表示可自定义的参数可用。
在下拉菜单中,您可以选择“仅至选定区域”选项,仅加载指针所指区域的参数,“至选定区域”,加载在相应复选框中选定的所有区域的参数,“至所有区域”,加载与选定机头相关的所有区域的参数。
一旦参数加载到RAM,它们立即生效,直到保存到ROM和硬盘重新启动。此行为允许您跨多个区域动态配置驱动器状态。
8 – 将加载到RAM的参数写入永久存储器(HDD ROM)。结果会修改驱动器的ROM所以每次操作都需要确认。
9 – 终止当前操作。
10 – 切换硬盘电源,并执行特定的初始化程序。首先,工厂模式将被解锁(如果在驱动器状态对话框中选择)。
在电源开关按钮下的下拉菜单中,您可以选择是否将写保护代码加载到硬盘RAM并配置保护参数。
A
11 – 这些按钮允许您将当前参数表的内容保存在。ini文件,稍后从其中加载更改以继续工作(如果工作仅在RAM中完成,而没有保存到rom中)。
表格的主要部分位于工具栏下方。第一列包含区域编号,第二列–所选区域的指示器。
此外,双击单元格会执行HDD终端命令,开始测试选定的区域。测试结果将输出到日志中。
在这里,CalThroughput列显示了131 MB/s区域的平均速度(吞吐量)和区域LBA边界(以十六进制表示)。
以下各列显示了变频器支持的AFH参数;列标题中的名称对应于驱动器固件中的参数名称。名称和值都来自枚举AFH驱动器参数的命令的报告。对于调整,使用RdHt,RHtClr,PrhtClr参数是推荐的,因为它们在读取时控制磁头的加热。在该版本的文档中,不建议修改其余参数。包含其他参数的列留在编辑器字段中,以防与方法相关的其他信息可用。您可以手动编辑参数值(通过点击相应的单元格),也可以批量编辑表格标题中带有复选标记的区域和参数组(批量更改将在下面详细描述)。
AFH参数列表下方的窗格包含以下元素:
用于LBA到CHS转换和测试的LBA号码输入字段。LBA号可以从在DE中读取时发现的区域中取得,在该区域中必须检索用户数据,但是HDD返回UNC读取错误或误读的带签名(“塞杜” / “btTEC“).
立正!由于在长时间调整AFH参数的过程中会重复读取LBA,您应该避免选择可能出现物理损坏的位置(卡住的磁头的碎片、磨损的润滑剂区域、可疑地类似于正在形成的划痕的区域),这些位置应该在目视检查磁盘的过程中识别出来。
“LBA -> CHS”按钮在终端中执行一个命令,将“用户LBA”字段中输入的LBA转换成磁盘上的物理坐标。它使您能够通过LBA号码定位必要的磁头和区域号码,以便调整AFH参数。
“检查(trm)”和“检查(ATA)”按钮允许您分别通过终端或ATA测试所选LBA的读数。读取的结果(数据转储)将输出到日志中。
“AFH调整”行允许您定义(以当前符号-十六进制/十进制)值,通过该值,参数将在批处理模式下被修改。
– 用于选择区域的字段,参数的批量修改将应用于当前选择的区域、带有复选标记的区域或全部区域。选中复选标记的列将被修改。
12 – 分别用于批量增加和减少AFH参数的按钮。
调整算法本质上非常简单。基于DE中的数据分析,识别出需要首先提高/恢复读数的测试区域。基于LBA数LBA->CHS按钮确定所需的磁头和区域,然后在向导中进行设置。我们要调整的参数列标有-RdHt,RHtClr,PrhtClr 图标,或通过使用终端或ATA测试按钮读取选择。该工具将分别记录区域测试的终端命令响应(包括区域中的平均读取速度),或读取特定LBA的结果-读取错误或成功读取,数据转储。您可以监视输出转储,看是否出现有意义的、稳定的可读数据,或者未正确读取的波段的签名(“塞杜” / “btTEC").请记住,虽然更改在加载后立即生效,但AFH像任何热过程一样是相当潜伏的。也就是说,要检查更改的效果,您需要多次重复区域/ LBA读数。
立正! 正如我们已经注意到的,调整过程可能需要很长时间,并且会发生在最初可读性差的区域!如果有丝毫怀疑读取问题不是由磁头退化引起的,而是由机械故障引起的,则强烈建议不要尝试调整AFH参数来获取数据,而不是更换/清洗MHA!
一旦找到特定选定区域的AFH参数的最佳调整,您应该标记除已配置区域之外的所有区域,并按照调整值和原始值之间的差值批量编辑它们的参数,然后将更改保存在驱动器ROM中。您还可以出于日志记录目的将更改保存到。ini文件。
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